Scanning probe mikroskopi (AFM/STM) af nanopartikler deponeret på flade substrater

  • Bohr, Jakob (Project Manager)
  • Sørensen, Alexis Hammer (Project Participant)
  • Mørch, Knud Aage (Project Participant)
  • Kyhle, Anders (Project Participant)

Project Details

Description

Ønsket om hurtigere og mere kompakt elektronik stiller krav til halvlederindustrien om udvikling af elektroniske kredsløb på nanometer skala (10-100 nm). Komponenter i denne størrelse vil endvidere give mulighed for at udnytte kvante-effekter ved stuetemperatur. Med nuværende litografiske teknikker er det meget kompliceret at fabrikere sådanne komponenter (strukturer), og vejen til produktion i stor skala synes lang. en genvej kunne skydes, dersom man kunne benytte nanopartikler (der er relativt lette at fremstille) til disse kredsløb. Særligt om man kunne bringe nanopartiklerne til at selv-organisere i regulære strukturer (arrays). Nærværende projekt består af AFM/STM mirkoskopering af overflader dækket med nanopartikler (klynger) for at studere forholdene omkring organiseringen af partiklerne. Der er observeret meget interessante fænomener som f.eks. "perlekæder" af partikler, der er dannet spontant i forbindelse med deponeringen af partiklerne. Prøverne bliver hovedsageligt fabrikeret af vore samarbejdspartnere i Klyngegruppen på Niels Bohr Instituttet, men gruppen fremstiller også selv prøver ud fra kemisk fremstillede nanopartikler. Endvidere er en opstilling til vakuum deponering af nanopartikler under indkøring (fagpakkeprojekt). Arbejdet foregår inden for rammerne af MUP2 centersamarbejdet CNAST.
StatusActive
Effective start/end date01/01/1995 → …