Fundamentale virkemåder af tapping mode atomic force mikroskopi

Ved "tapping mode" AFM vibreres mikroskopets bladfjeder, hvorpå selve proben befinder sig, ved fjederens resonansfrekvens. Dette gøres i en sådan højde fra prøven, at proben periodisk er i kontakt med prøven - den "tapper". Denne mode er særdeles velegnet til mikroskopering af bl.a. løse partikler på overflader, da de laterale kræfter i denne mode er små. Metoden er relativ ny, og der er derfor mange uafklarede spørgsmål, f.eks. omkring størrelsen af de involverede kræfter, samt om hvordan man bør indstille mikroskopet (amplitude, frekvens etc.) for at udnytte metoden optimalt. vi har eksperimentelt gjort vigtige opdagelser desangående og arbejder med at undersøge disse ved yderligere målinger samt ved numeriske simuleringer.