NullPointerException

View graph of relations

Ved "tapping mode" AFM vibreres mikroskopets bladfjeder, hvorpå selve proben befinder sig, ved fjederens resonansfrekvens. Dette gøres i en sådan højde fra prøven, at proben periodisk er i kontakt med prøven - den "tapper". Denne mode er særdeles velegnet til mikroskopering af bl.a. løse partikler på overflader, da de laterale kræfter i denne mode er små. Metoden er relativ ny, og der er derfor mange uafklarede spørgsmål, f.eks. omkring størrelsen af de involverede kræfter, samt om hvordan man bør indstille mikroskopet (amplitude, frekvens etc.) for at udnytte metoden optimalt. vi har eksperimentelt gjort vigtige opdagelser desangående og arbejder med at undersøge disse ved yderligere målinger samt ved numeriske simuleringer.
StatusCompleted
Period01/01/95 → …
Download as:
Download as PDF
Select render style:
ShortLong
PDF
Download as HTML
Select render style:
ShortLong
HTML
Download as Word
Select render style:
ShortLong
Word

ID: 2260992